沉降法測(cè)定顆粒尺寸是以Stokes方程為基礎(chǔ)的,該方程表達(dá)了一球形顆粒在層流狀態(tài)的流體中, 自由沉降速度與顆粒尺寸的關(guān)系。所測(cè)得的尺寸為Stokes直徑.

       沉降法測(cè)定顆粒尺寸分布有增值法和累計(jì)法兩種。前一種方法測(cè)定初始均與的懸浮液在固定高度處顆粒濃度隨時(shí)間的變化,或固定時(shí)間測(cè)定濃度-高度的分布:累計(jì)法是測(cè)量顆粒從懸浮液中沉降出來(lái)的速度。目前以固定高度法使用得最多.

       依靠重力沉降的方法,一般只能測(cè)定大于0.1um (100nm)的顆粒尺寸,因此在用沉降法測(cè)定納米粉體的顆粒時(shí),需借助于離心沉降法。在離心力的作用下使沉降速率增加,并采用離心力場(chǎng)分級(jí)裝置,配以先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng),以測(cè)定10nm甚至更小的顆粒。

       目前,沉降法測(cè)定粉體的粒度大小和分布大多通過(guò)自動(dòng)化程度較高的儀器來(lái)完成。

      沉降方法的優(yōu)點(diǎn)是可分析顆粒尺寸分布范圍寬的樣品,顆粒大小比至少100-1,缺點(diǎn)是分析時(shí)間長(zhǎng),另外,沉降法測(cè)定的是分散顆粒的粒徑,不是晶粒尺寸。如果顆粒在制備過(guò)程中形成了硬團(tuán)聚體,在測(cè)定粒度時(shí)不能用機(jī)械方法或超聲該分散打開(kāi)團(tuán)聚體,則測(cè)定的是團(tuán)聚體額粒的尺寸.